Высокоэффективное удаление ионов меди (II) ксерогелем SiO2, синтезированным нейтрализацией силиката натрия сероводородом
Ш.Г. Аммаева, А.Б. Исаев, Н.С. Шабанов, К.Ш. Рабаданов, И.В. Панков
Коллоидный журнал. 2026. Т. 88. № 2. С. 172–189.
DOI: 10.31851/S0023291226020037
Аннотация
В работе синтезирован ксерогель SiO2 нейтрализацией силиката натрия сероводородом, исследованы его адсорбционные свойства для удаления ионов меди (II) с учетом его морфологических и структурных характеристик. Синтезированный адсорбент был охарактеризован с использованием методов сканирующей электронной микроскопии, просвечивающей микроскопии высокого разрешения, инфракрасной спектроскопии и энергодисперсионного анализа. Удельная поверхность ксерогеля SiO2, синтезированного из силиката натрия пропусканием сероводорода, составила 145 м2/г, а объем монослоя – 34 см2/г. Исследована зависимость адсорбционных характеристик синтезированного ксерогеля SiO2 от различных параметров процесса. Максимальная адсорбционная эффективность достигается при pH 4–5, при этом процесс быстро протекает за первые 20 мин. Изотермы адсорбции соответствуют модели Ленгмюра. Исследованы термодинамические и кинетические аспекты адсорбции ионов меди (II) на синтезированном ксерогеле SiO2. Кинетический анализ показал, что модель псевдовторого порядка лучше описывает процесс адсорбции ионов меди (II) на ксерогеле SiO2. Рассмотрены вопросы механизма адсорбции ионов меди (II) на ксерогеле SiO2.